IPEIA Konferenz und Ausstellung

Entdecken Sie die Leistungsfähigkeit der tragbaren XRF- und LIBS-Geräte (Laser) von SciAps zur Verbesserung Ihres Inspektionsprozesses, einschließlich des wirtschaftlichen CSi für die tragbare Kohlenstoff- und Siliziumanalyse, das für hervorragende Ergebnisse bei gekrümmten Oberflächen und kleinen Teilen entwickelt wurde.

‍Anfang: Februar 22

‍Ende: März 2